ICの不良解析

不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Viewerによるレイアウト確認が可能な「発光解析/OBIRCH解析」を はじめ、「層剥離/サンプル加工」や「PVC解析」、「拡散層エッチング」、 「sMIM解析」等、様々な解析手...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】LED不良観察事例(X線透視観察)

【動画あり】不良発生の瞬間を捉えました！LEDのX線観察事例をご紹介し…

表面実装型のLEDが過負荷で損傷する瞬間をX線透視観察で捉えた事例を ご紹介します。 表面実装型のLEDを通電した状態で、電圧、電流を定格値から徐々に 上昇させ、過負荷により不点灯となった過程を撮影しました。 また、動画でも不点灯となった過程をご覧いただけます。 【LED不良観察事例】 ■不点灯後 ・溶融、断線 ・ワイヤーのループ形状変化 ・蛍光体の剥離 ・ボイドの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス