蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です…

『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■膜厚測定や組成分析に好適 ■再校正に必要な時間や労...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の 分析ができ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『XANシリーズ』

膜厚測定や素材分析用の蛍光X線分析装置！非破壊式で簡単に素早く測定！

『XANシリーズ』は、貴金属・歯科用合金・ホワイト ゴールド・銀・ ロジウムなど、あらゆる宝飾用合金やコーティングを非破壊式で簡単に素早く 測定することができる蛍光X線式測定器です。 わずか数秒で測定試料の構成元素が正確に確認することができます。 試料の設置を単純化させるため下側からX線を照射させるタイプとなっており、 サンプルの配置が簡単に早くできるようになっています。 【特...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』持ち運び可能！

高精度かつ高い検出感度！現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…

『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます。 高精度で長期安定性がFISCHERSCOPE X-RAYシステムの大きな特長で、 キャリブレーションの頻度が少...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』

お客様に合わせたカスタマイズが可能！クリーンルーム環境にも適用します！

『XDV-μ SEMI』は、微小部膜厚測定にすぐれたエネルギー分散型 蛍光X線測定装置です。 当製品の測定では、信頼性のある高精度な測定が可能なため、ナノスケールの UBMメッキ、C4はんだバンプ、鉛フリーはんだ銅柱、極小ランディングパッドや 2.5D/3Dパッケージソリューションなどの膜厚測定と組成分析ができます。 【特長】 ■自動化による安全性 ■お客様に合わせたカスタマ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ

下から照射型でコンパクト設計の蛍光Ｘ線膜厚・素材分析装置です。測定物を…

■　測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■　シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能（XAN250、XAN252） ■　コンパクト設計 ■□■ラインナップ■□■ ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 (X線検出器：PINタイプ） ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250（X線検出器：SDDタイプ)...

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