経営事項審査・評点計算システム『経審博士17＋Form』

PR経審博士17シリーズは令和5年1月施行の改正経営事項審査の評点計算と基…

『経審博士17＋Form』は、『経審博士17』に加えて経審の経営状況Ｙ評点を申請するための 「経営状況分析申請」と、総合評定値Ｐ評点を申請する「経営規模等評価申請」の書類が作成できる 経営事項審査・評点計算システムです。 経営状況分析機関である(一財)建設業情報管理センターの「CIIC分析パック」・「なんでも経審」に直接申請項目データを移す機能を搭載。 比較的パソコンに不慣れでも容易に扱える操...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社経審研究所

蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能…

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリン…

、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12mmあるため複...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・…

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ