経営事項審査・評点計算システム『経審博士17＋Form』

PR経審博士17シリーズは令和5年1月施行の改正経営事項審査の評点計算と基…

『経審博士17＋Form』は、『経審博士17』に加えて経審の経営状況Ｙ評点を申請するための 「経営状況分析申請」と、総合評定値Ｐ評点を申請する「経営規模等評価申請」の書類が作成できる 経営事項審査・評点計算システムです。 経営状況分析機関である(一財)建設業情報管理センターの「CIIC分析パック」・「なんでも経審」に直接申請項目データを移す機能を搭載。 比較的パソコンに不慣れでも容易に扱える操...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社経審研究所

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

インライン測定システム『X-RAY 5000』

大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム…

『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、 デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。 測定ヘッドはコンパクト設計にな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ

下から照射型でコンパクト設計の蛍光Ｘ線膜厚・素材分析装置です。測定物を…

■　測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■　シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能（XAN250、XAN252） ■　コンパクト設計 ■□■ラインナップ■□■ ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 (X線検出器：PINタイプ） ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250（X線検出器：SDDタイプ)...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ