• SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器  製品画像

    SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

    裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

    【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 真偽判定検査装置『SIGMASCOPE GOLD B』 製品画像

    真偽判定検査装置『SIGMASCOPE GOLD B』

    保護フィルムの上からでも測定可能!非破壊で金インゴット・コインを真偽判…

    『SIGMASCOPE GOLD B』は、約18mmまでの厚みのある金インゴットを測定可能な 金インゴット・コインの真偽判定検査装置です。 従来の破壊式測定器では、貴金属の価値そのものを喪失してしまいますが、 当製品は非破壊で金インゴットやコインが純金であるかを測定可能です。 金インゴットを両面から測定する際に、その深さ全体を測定することができるため 純金であるか合金であるかの真...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』 製品画像

    蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

    ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』 製品画像

    蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

    電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

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