イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。 ・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。...・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能。 ・集録用、Viewerの2本のアプリケーションを用意しております。 ・新規/既存に関わらず、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。 ・12ch/1ブロック又...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point） ・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。 ・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。 ・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。 ・応力シミュレーションサービスのご提案...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能！！

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断Eventを1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステム。 ・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリングすることができ、瞬断Event以外にも関連する複数の情報を取得・表示・保存。 ・Event情報（各ch毎） ・Event発生回数、発生期間（瞬断時間） ・サイクル数、温度、冷熱衝撃試験器温度遷移情報（up/down/hold）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology