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チップ状態の検査では素子面、ガラス面それぞれの検査が可能
【特徴】 ◯撮像素子等で使われる、マイクロレンズアレイに発生した ９０ナノメータのクラック検査に実績あり ◯チップ状態の検査では素子面、ガラス面それぞれの検査が可能 ◯顕微鏡で見ている画像を、広範囲に撮像することが可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス
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