パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』

コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体…

イオードの逆回復動作の破壊試験 ■dv/dt耐量 ・MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ■サージ耐量ダイオード ・非繰返しピーク順電流“IFSM” ■ゲート電荷量 ・ゲート入力電荷量“QG” ■エージング試験 ■耐圧試験（高電圧リレー回路製作） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

ダイオードの逆回復動作の破壊試験 ・dv/dt耐量：MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ・サージ耐量（ダイオード）：非繰り返しピーク順電流“IFSM” ・ゲート電荷量：ゲート入力電荷量“QG” ・エージング試験 ・耐圧試験（高電圧リレー回路製作） ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター