• CCDカメラモジュールの断面加工観察 製品画像

    CCDカメラモジュールの断面加工観察

    当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます!

    CCDカメラモジュールは、小さな筐体の中にセンサや制御素子、AF駆動機構など 電子技術と機械技術を融合した複雑な構造で構成されています。 また材料も金属、ガラス、樹脂など多数使用されており、断面作製は困難な...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 1.シリコンウェハ(6インチ角以下) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細...

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  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症し...

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  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 1.シリコンウェハ(6インチ角以下) ...

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