LED照明取替用ユニット -トンネル非常電話収納箱（壁掛式）-

PRトンネル壁面収容箱の筐体をそのまま利用して簡単迅速にLED化

2023年11月の「水銀に関する水俣条約 第５回締約国会議」において、 蛍光ランプの製造・輸出入を、2027 年までに段階的に廃止することが決定されており、 蛍光灯式非常電話収納箱のLED化が必須となっています。 東亜通信工材株式会社で取り扱う トンネル非常電話収納箱（壁掛式）LED照明取替用ユニットは、 既存の筐体をそのまま利用し、簡易にLED化を実現します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業： 東亜通信工材株式会社

垂直搬送機『トレーリフター』＜AGV連携で業務効率化＞

PR【動画で解説中】AGVと連携させることで、別の階への荷物搬送を大幅に改…

当社では、垂直搬送機『トレーリフター』にAGV・AMRを乗せて搬送し、 階をまたぐ工程間の搬送を自動化するソリューションを提供しています。 こんなお悩みございませんか？ ・重い荷物を手作業で運んでいるために、運搬効率が悪く業務の進みが悪い ・別の階への荷物運送に時間がかかっている ・工程が上下階に分かれているため運搬作業の自動化が進まない AGV・AMRに合わせた仕様を用意でき、シャッター開閉...

メーカー・取り扱い企業： 鈴木製機株式会社 東京営業所・中部営業所・大阪営業所・岡山営業所・九州営業所

角型Liイオン電池の構造解析

光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察！詳細な構造の解析や元素…

市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電池の詳細構造観察を写真を用いてご紹介しております。 【解析概要】 ■Liイオン電池の全体構造及びSEM観察 ■極低加速FE-SEMによるLiイオン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

X線透視観察・斜めCT観察・直交CT観察など！BGAはんだクラック解析…

X線透視・CT検査装置によるBGAはんだクラック解析事例をご紹介します。 電気的にオープンとなった基板のBGA接続部をX線透視で観察したところ、 BGAの接続部にクラックが発生している様子が確認されました。 また、X線透視観察にて確認されたはんだ接続部のクラックについて、 斜めCTで観察してみました。 斜めCTでは平面的な情報は綺麗に取れますが、はんだボールやボイドのような ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】マイクロフォンの観察事例

【動画あり】X線透視観察＆直交CT観察！マイクロフォンの観察事例をご紹…

マイクロフォン部品をX線透視観察＆直交X線CTで観察した事例をご紹介します。 MEMSチップやSiチップは透けてしまうので、微かにしか観察できません。 しかし、X線透視像では、ワイヤーボンディングの様子や実装基板の配線 パターンが観察できます。 直交CT像では、MEMSチップやSiチップが透視像に比べ、明瞭に観察できます。 また透視像は、各層が重なった状態での観察となりますが...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例

画像処理により正常品画像と不良品画像の差分を検出！透過観察と画像処理技…

X線透視・CT検査装置による透過観察と画像処理技術の併用事例をご紹介します。 正常基板の透過X線像や不良基板の透過X線像では、配線が複雑に張り巡らされ 一見しても異常部は見つかりませんでしたが、画像処理により正常品画像と 不良品画像の差分を検出できました。 基板配線のパターン異常などでは広範囲の視野から不良個所の特定は困難ですが、 画像処理ソフトと併用する事で異常部の発見が可能と...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMAによる微量元素の検出

検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています

EPMA分析は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に微量成分の定量分析や マップ分析等に優れています。 パッケージ内のAu-1stボンディグで不良が発生した例では、腐食原因物質の 特定と分布状況を確認するため、EDX分析とEPMA分析を実施しました。 EPMAでは分解能、検出下限、P/B（ピークバックグラウンド）比が、EDXより 優れているため、微量のCl分布が明瞭に把握するこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例

立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご…

X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。 チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に有効。 X線観察やCT観察で不具合箇所が見つかれば、断面観察や元素分析を行い、 原因を調査...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析

ヘッドスペースGC-MS分析法と、液晶パネル偏光板のアウトガス成分分析…

製品の構成材料や梱包材、緩衝材などに溶剤や低分子有機物質、未反応物質が 残存するとそれらがアウトガスとして、拡散、または構成素材に浸透し 製品寿命や特性、および環境人体に影響を与える場合があります。 残存する微量な物質の定性分析、定量分析にはGCMSのヘッドスペース法が 有効となります。 当資料では液晶パネルに使用される偏光板のアウトガス成分を定性分析した 事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSDによる解析例（セラミック）

「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を…

セラミック（Al2O3）について、EBSDによる解析例を紹介致します。 「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、 マップよりSiが点在している様子が観察されました。 「EBSDによる解析」では、EBSD法により結晶サイズの分布や配向性を 確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【解析概要】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】透明樹脂のFT-IR分析

液晶ディスプレイの周辺部材、繊維などの原料（ペレット）をIR分析した結…

PMMA（アクリル）、PET（ポリエチレンテレフタレート）、 PC（ポリカーボネート）はその透明性という特長を活かし、 多くの用途に使用されます。 液晶ディスプレイの周辺部材、モバイル端末画面の保護フィルム、 ヘッドライトカバー、光ファイバー、繊維など産業用製品には 欠かせない材料です。 当資料では、それらの原料（ペレット）をIR分析した結果をご紹介します。 【掲載内容】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】Cuワイヤボンディングの接合界面について

各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを詳しく解説しています！

当資料は、半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの 接合界面について掲載しています。 試料及び方法をはじめ、各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを 図や写真と共に詳しく解説しています。 【掲載内容】 ■緒言 ■試料及び方法 ■各種ワイヤボンディング ■結果及び考察 ■結言 ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています！

当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行うことが出来ます。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ネオジム磁石の脱磁とSEMによる断面観察(日立ハイテク社製TM3030Plus) ・脱磁処理(磁石...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】LED不良観察事例(X線透視観察)

【動画あり】不良発生の瞬間を捉えました！LEDのX線観察事例をご紹介し…

表面実装型のLEDが過負荷で損傷する瞬間をX線透視観察で捉えた事例を ご紹介します。 表面実装型のLEDを通電した状態で、電圧、電流を定格値から徐々に 上昇させ、過負荷により不点灯となった過程を撮影しました。 また、動画でも不点灯となった過程をご覧いただけます。 【LED不良観察事例】 ■不点灯後 ・溶融、断線 ・ワイヤーのループ形状変化 ・蛍光体の剥離 ・ボイドの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】カニカン

長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介！

長期の使用により破損したカニカンの破断部について、観察、 元素分析、EBSDによる解析を行いましたので紹介致します。 EDXによる元素分析では、マッピング分析の結果、Pb結晶の 粒界にSbの分布が見られました。 また、EBSD法により結晶粒の配向性や方位差を確認できました。 【解析概要】 ■EDXによる元素分析 ・マッピング分析の結果、Pb結晶の粒界にSbの分布が見られた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス