DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テストローデ・シュワルツ・ジャパン

シグナルインテグリティー条件の解析に要する時間を大幅に短縮！

コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダム・アクセス・
メモリ（DRAM）信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルが
仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。

アイダイアグラム・テストを利用してシグナルインテグリティー条件の
解析に要する時間を大幅に短縮することで、信号品質をすばやく
検査することができます。

以下のような課題を『DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト』
により解決します。

【課題】
■シグナルインテグリティーの問題をすばやくデバッグできる柔軟性がない
■リード／ライトの分離が必要
■シンプルなマスクに基づいてテストを行うためのデータバースト内での
　連続ビットの重ね合わせ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - http://www.rohde-schwarz.co.jp/

基本情報DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト

【概要】
DRAMのDDR3インタフェーステストでは、コンプライアンステストで
JEDEC規格に対する相互運用性を評価することができます。

シグナルインテグリティーの問題のデバッグを行う際には、解析作業を
円滑に進めるため、マスクテスト、アイダイアグラム・ツール、
リード／ライト分離などの機能やツールが必要です。

そのため、「R&S RTx-K91」オプションには、DDR3テスト用に必要な
すべてのコンプライアンス機能とデバッグ機能が揃っています。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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