ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社 セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析

ヒストリー機能を用いた高分解能での長時間捕捉について紹介します。

新製品の開発時には、散発的なエラーによって貴重な時間が失われます。
オシロスコープのメモリでは、通常、エラーやエラーの履歴を解析するための
メモリ長が数ミリ秒に制限されます。

大容量のセグメントメモリと専用のトリガ条件により、長時間休止すること
なく、関連するシーケンスを捕捉できるので、この問題を解決できます。

【電子計測ソリューション】
■シングルショット
■アクティブな信号要素に収集を制限
■ヒストリーおよびセグメントメモリ
■設定が簡単で、結果を短時間で取得可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析

【オシロスコープ / セグメントメモリ】
■R&S RTB2000 / 160 Mサンプル
■R&S RTM3000 / 400 Mサンプル
■R&S RTA4000 / 1000 Mサンプル

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カタログセグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析

取扱企業セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析

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ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

○計測機器・試験装置およびそれらに関わるシステムの開発・製造・輸出入・販売・技術サポート・保守サービス

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