株式会社キューブイノベーション 渦電流膜厚計 LH-373
- 最終更新日:2021-11-19 13:20:46.0
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非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。
付加機能はLE-373と同様でプリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能です。
基本情報渦電流膜厚計 LH-373
■仕様
測定方式 渦電流式
測定対象 非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲 0~1200μmまたは47.0mils
測定精度 50μm未満:±1μm、
50μm以上1000μm未満:±2%、
1000μm以上:±3%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
データメモリ数 約39,000点
検量線メモリ アプリケーションメモリ:100本の検量線を記憶
プローブ 一点接触定圧式(LHP-J)
表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)
電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4
消費電力 80mW(バックライト非点灯時)
電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
使用温度範囲 0~40℃
付加機能 各種機能16種
価格情報 | 数量によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
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価格帯 | 10万円 ~ 50万円 |
納期 |
お問い合わせください
※数量によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
型番・ブランド名 | LH-373 |
用途/実績例 | - |
取扱企業渦電流膜厚計 LH-373
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