アワーズテック株式会社 薄膜の連続監視に！非破壊分析のライン組込式蛍光Ｘ線分析装置。
- 最終更新日：2023-01-13 13:33:38.0
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自在にカスタマイズできる、ライン組込式蛍光Ｘ線分析装置！ フィルムのコーティング膜厚や液体の成分分析も連続・高精度で監視可能
当社の非破壊分析技術を生かした、
ライン組込式エネルギー分散型蛍光X線分析装置
「OURSTEX100TA-F」をご紹介いたします。
成膜装置へ組込めば、フィルム上に成膜された
物質の連続膜厚測定、連続組成分析が可能になります。
フィルム本体や樹脂に含まれる成分の連続分析・測定も可能です。
流体の組成の連続モニタリングにも応用可能です。
カスタマイズにより、モニタリング対象元素や外部インターフェイス等、
お客様のご要望に合わせたご提案が可能です。
【特長】
■インラインで膜厚の連続測定や組成の連続分析が可能
■フィルムや樹脂に含まれる成分の分析・測定も可能
■流体の連続モニタリングにも応用可能
■電源はAC100Vのみ、省電力装置
■SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要
■お客様のご要望に合わせてカスタマイズ
【用途例】
◎高機能フィルムのインライン分析に
◎金属箔のインライン分析に
◎溶液・液体のインライン分析に
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報薄膜の連続監視に！非破壊分析のライン組込式蛍光Ｘ線分析装置。
【仕様（一部）】
■測定原理：エネルギー分散型蛍光X線分析法
■測定対象：フィルム・薄膜（膜厚）・流体
■電源：AC100V-240V
■設置環境温度：5-27℃
■装置冷却：水冷式 ※測定ヘッド部(内部)が水冷の対象
■X線定格出力：40kV、1.0mA、最大40(W)
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【応用例】 ■高機能成膜フィルムのインライン膜厚分析 ■金属箔のインライン分析 ■溶液・液体のインライン分析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ薄膜の連続監視に！非破壊分析のライン組込式蛍光Ｘ線分析装置。
取扱企業薄膜の連続監視に！非破壊分析のライン組込式蛍光Ｘ線分析装置。
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・エネルギー分散型蛍光X線分析装置（各種）の開発、製造、販売、レンタル。 分野 ■環境 ■電子材料、部品 ■資源、エネルギー ■鉄鋼、非鉄金属 ■化学 ■機械 ■文化財、考古学、科学捜査 ■食品 ■高分子材料 ・上記に関連するソリューション提案他。
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