貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます！
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。
貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。
対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。
主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールドなどの金性、プラチナおよび銀、ロジウムメッキされた金や銀合金、合金組成および皮膜厚さ測定、多層の皮膜厚さ測定などです。
【特長】
○優れた精度と長期安定性
→再校正にかかる時間と労力を節約できる
○最新のシリコンPin検出器が高い精度と検出感度を達成する
○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、
皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本情報蛍光X線分析器「X-RAY XAN215」
【特長】
○ユーザーフレンドリーなベンチトップタイプの分析器
○測定方向は下面照射（下から上）
→X線管球や検出器などの主要部品は測定機下部に収納
○迅速かつ容易にサンプル位置合わせができるように、
サンプルは測定窓に乗せる（透明な窓）
○ズームとクロスヘアーの統合したビデオ画像
→正確な測定位置調整が可能
○ユーザーフレンドリーなWinFTM(R)ソフトウエア
→測定から測定データの提出フォーム編集まですべてがこなせる
○DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
| 価格情報 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | 【主な測定対象】 ○ジュエリー・貴金属および歯科用合金 ○イエロー・ホワイトゴールドなどの金性 ○プラチナおよび銀 ○ロジウムメッキされた金や銀合金 ○合金組成および皮膜厚さ測定 ○多層の皮膜厚さ測定 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 |
取扱企業蛍光X線分析器「X-RAY XAN215」
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