0.08μm ハードディスク、スピンドルモータなどの発塵検査に最適
気中パーティクルカウンター 0.08μm
ハードディスの出荷検査やモターからの発塵試験に多数実績あり
国内製造・国内メンテナンスの充実のサポート体制
基本情報パーティクルカウンター 気中 0.08μm KC-22B
●測定粒径範囲:0.08 μm、0.1 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上
● 小型・軽量、高出力で長寿命、安定性の良い光学系を採用
● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現
● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自動測定が可能
● 測定結果をプリンタ(オプション)に印字可能
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | KC-22B |
用途/実績例 | 部品からの発塵検査 ハードディスク駆動時の発塵検査 モター駆動時の発塵検査 |
カタログパーティクルカウンター 気中 0.08μm KC-22B
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