き裂成長モニタ　ＣＧＭ－７日本ハイコン

試験片に流す電流の電位差で、き裂の伸展をモニタ

クラックグロースモニターＣＧＭ-７は、（英国）マテレクト社が永年に亘る試験研究と経験により開発した、交流電位差法（ACPD）によりき裂の成長をモニターする測定器です。

関連リンク - http://www.hicon.co.jp/product/kiretu.html

基本情報き裂成長モニタ　ＣＧＭ－７

【特徴】
○試験片に供給する交流電流の周波数が300Hzから100kHzまで１Hz毎に連続的に変更可能
　（※モデルによって出力周波数の範囲は異なります）
○４種類のフィルティング設定が選択可能
○ゲイン値は、1000から30000まで9種類から選択可能
○全てのモデルで２チャンネルを標準装備、そのままでリファレンス測定可能
○供給電流値は、１mA毎最大２Aまで設定可能
　（モデルにより異なります）
○出力信号のオフセット値は、-４Vから+４Vまで連続的に選択可能
○PD値の抵抗成分と誘導成分を同時に表示
○プリアンプユニットを各チャネルに標準装備し、優れたＳＮ比を実現

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用途／実績例	原子力、火力、化学プラントをはじめ航空機、橋梁等の構造材のき裂の成長をモニター　◆安定き裂成長過程の研究　◆き裂の寸法評価　◆動的き裂発生と成長の研究　◆試験片への予き裂導入時のモニタリング　◆疲労による割れ成長に関する研究　◆応力腐蝕割れの研究　◆材料劣化の研究　◆き裂発生時のモニタリング