持ち運べるＸ線測定器　パルステック、来月発売　2012.5.25　日刊工業新聞　掲載

　[浜松]パルステック工業は金属表面に残るひずみを非破壊で計測する小型のX線測定器「μーX360」を6月1日発売する。本体と電源ユニットを合わせた重量は９．５キログラムで持ち運びが可能。消費電力は20ワットに抑えた。価格は700方円から。輪送機器部品メーカーなど向けに年間30台の販売を目指す。
　測定時間は従来他社製品の1時間から約90秒に短縮。対象物から3センチメートルの距離から直径2ミリメートルの範囲にX線を照射、その反射光を測定してひずみを測る。検査機能を金属表面のひずみに絞ることで小型化、低価格化を実現。従来の非破壊検査装置は原子間の距離を測ったり、成分を詳細に分析したりできるが、大型で持ち運びできず高価だった。